خانه / مهندسی برق و الکترونیک / سایر موضوعات مهندسی برق و الکترونیک / دانلود مقاله isi تکنیکی برای ارزیابی موثر نقص زمانی SRAM
دانلود مقاله isi تکنیکی برای ارزیابی موثر نقص زمانی SRAM

دانلود مقاله isi تکنیکی برای ارزیابی موثر نقص زمانی SRAM

عنوان فارسي مقاله :: دانلود مقاله isi تکنیکی برای ارزیابی موثر نقص زمانی SRAM

عنوان انگليسي مقاله :: Technique for Efficient Evaluation of SRAM Timing Failure

  • تعداد صفحه مقاله انگليسي ISI ::
  • تعداد صفحه مقاله فارسي ISI ::
  • کد مقاله ISI ::
5 صحفه PDF
13 صحفه WORD
52959

فهرست مطالب ترجمه فارسي مقاله isi ::

فهرست مطالب ترجمه فارسي مقاله isi ::

چکیده
عبارات شاخص
مقدمه
شکل۱٫ (الف) مقیاس‌بندی مساحت سلول SRAM . (ب) بهره‌بداری از SRAM در ریزپردازنده‌های با عملکرد بالای اخیر.
الف. کارهای گذشته
ب. سهم این کار
گسترده‌سازی حلقه برای تغییر زمانی
شکل۲٫ (الف) آرایش SRAM نماینده. (ب) طرح ساده شدۀ مسیر خواندن سیگنال کوچک.
شکل۳٫ (الف) درخت طرحوار مسیر خواندن سیگنال بزرگ. (ب) درخت ساده برای تحلیل گسترده‌سازی حلقه.
شکل۴٫ شبیه‌سازی SPICE مسیر خواندن سیگنال بزرگ.
تحلیل هزینۀ IS کروی
جدول۱:مقایسۀ هزینۀ شبیه‌سازی بین این مختصر و مرجع [۵].
نتیجه‌گیری

ترجمه چکيده مقاله ISI ::

ترجمه چکيده مقاله ISI ::

این مقاله به طور مختصر تکنیکی برای ارزیابی تغییر زمانی حافظۀ با دسترسی تصادفی استاتیکی (SRAM) معرفی می‌کند. به طور خاص، روشی موسوم به گسترده‌سازی حلقه ارائه می‌شود که ارزیابی آمار زمانی در مدار با ساختار پیچیده را به اندازۀ ارزیابی یک زنجیرۀ منفرد از مدارهای اجزا کاهش می‌دهد. سپس، برای ارزیابی بسیار سریع تاخیر زمانی یک زنجیرۀ منفرد، یک روش آماری مبتنی بر نمونه‌برداری اهمیت در ترکیب با نمونه‌برداری کروی بُعد بالای هدف به کار می‌رود. رهیافت کلی نسبت به روش مونت کارلوی نامی ۶۵۰ برابر یا بیشتر سریع‌تر بوده و ۵/۱۰% دقت در احتمال دارد. مثال‌های مبتنی بر مسیر خواندن SRAM سیگنال بزرگ و سیگنال کوچک بحث شده و مقایسه‌ای کامل با تکنیک‌های نوین شبیه‌سازی آماری تسریع شده صورت می‌گیرد.

دانلود مقاله isi تکنیکی برای ارزیابی موثر نقص زمانی SRAM

پاسخ دهید

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *